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这是一本从原理和实践两个层面解读GD32 MCU原理及标准库开发的专业技术书。本书内容均来自兆易创新内部及周边一线使用的企业，主要面向初中及人员，解决其在实际工作中入门、使用的问题。 全书共分为7章，首先分析了MCU的基本情况，然后聚焦于GD32，分别介绍了其产品形态、选型技巧，然后从原理和实践两个维度对入门知识、内核、存储器、电源管理、时钟系统、基础外设、模拟外设、通信外设进行深入解读。
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GD＆T几何公差入门与提高(第2版)夏忠定电子工业出版社9787121447815
本书由资深GD&T专家夏忠定先生撰写，基于ASME Y14.5―2018，同时参照ISO 1101和GB/T 1182等几何公差标准，侧重于应用以及检测和检具的设计，系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义，详细阐述了GD&T的公差原则，24个公差修饰符号的使用，12个基本公差符号的定义、功能和检测，复合公差等内容。本书内容全面、文字简明、图表数据充实，采用了大量、详细的应用图例，读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识，提高设计开发效率，降低企业开发、生产成本。本书不仅适合制造企业，尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考，而且适合大学及专科院校机械类专业的学生学习。
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本书共12章，以及3个附录，系统地介绍了GD＆T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD＆T的公差原则，24个公差修饰符号的使用，12个基本符号的定义、功能和检测，复合公差的理解和应用。本书采用国际新标准ASME Y14.5—2018作为依据，内容全面、文字简明、图表数据充实，采用了大量、详细的应用图例，力求增强可读性、易懂性和实用性。 本书不仅对第1版的第1～11章的内容进行了修改和增减，还增加了第12章“GD＆T和GPS主要差异分析”、附录A“测量取点方案”和附录B“拟合操作算法”等新内容。同时，对全书每章的习题内容也进行了补充，除了选择题，还增加了判断题和应用题，并附加了每章的习题答案（附录C）。 本书不仅适合制造企业，尤其是汽车、航空行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师学习，而且适合大学本专科院校
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