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GD32 MCU原理及固件库开发指南 映时科技 董晓 任保宏 著 机械工业出版社 【正版旧书,保证质量,此书为单本,电子发票!】
这是一本从原理和实践两个层面解读GD32 MCU原理及标准库开发的专业技术书。本书内容均来自兆易创新内部及周边一线使用的企业,主要面向初中及人员,解决其在实际工作中入门、使用的问题。 全书共分为7章,首先分析了MCU的基本情况,然后聚焦于GD32,分别介绍了其产品形态、选型技巧,然后从原理和实践两个维度对入门知识、内核、存储器、电源管理、时钟系统、基础外设、模拟外设、通信外设进行深入解读。
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GD&T几何公差入门与提高 第2版第二版 GD&T图纸的特点基本术语和定义介绍书籍 夏忠定 著 电子工业出版社
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GD&T几何公差入门与提高夏忠定电子工业出版社9787121447815 正版旧书,保证质量,此书为单本而非一套,电子发票!
本书共12章,以及3个附录,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本符号的定义、功能和检测,复合公差的理解和应用。本书采用国际新标准ASME Y14.5—2018作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。 本书不仅对第1版的第1~11章的内容进行了修改和增减,还增加了第12章“GD&T和GPS主要差异分析”、附录A“测量取点方案”和附录B“拟合操作算法”等新内容。同时,对全书每章的习题内容也进行了补充,除了选择题,还增加了判断题和应用题,并附加了每章的习题答案(附录C)。 本书不仅适合制造企业,尤其是汽车、航空行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师学习,而且适合大学本专科院校
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这是一本兆易创新高工、芯片综合服务商映时科技及一线从业者共同撰写的GD32 MCU重磅指南,得到了兆易创新产品市监及产业界、技术圈、高校10余名。书中从原理和实践两个角度解读GD32 MCU,通过该书读者可以深度理解GD32 MCU工作原理,并快速上手开发。
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本书基于ASME Y14 5、 1101和GB/T 1182等几何公差标准,内容侧重于应用,以及检测和检具的设计。检具设计的关键工作在于计算,读者在设计检具或夹具时可以参考这些检具设计知识要点。本书内容旨在介绍这门学科的应用知识,提高设计开发效率,降低企业开发、生产成本。
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GD32微控制器原理与应用 主编:张沛昌 郭文波 副主编:唐浒 董磊9787302635932 清华大学出版社全新正版
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本书共11章,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差。本书采用靠前近期新标准ASME Y14.5―2018作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。读者可以学习掌握传统坐标公差的缺点,12个几何公差的应用(尤其是位置度和轮廓度),独立组合位置度和复合位置度的区别,优选/很小实体要求(MMC/LMC)对产品图纸和成本的影响,实体要求应用在基准上对几何公差的影响,如何实现位置度和轮廓度的测量(包括CMM和功能检具),如何正确理解基准及怎样利用基准建立坐标系等。
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本书由资深GD&T专家夏忠定先生撰写,基于ASMEY14.5,同时参照ISO1101和GB/T1182等几何公差标准,侧重于应用以及检测和检具的设计,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义,详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差等内容。 本书内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识,提高设计开发效率,降低企业开发、生产成本。 本书不仅适合制造企业,尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考,而且适合大学及专科院校机械类专业的学生学习。
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