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GD&T几何公差入门与提高 夏忠定 电子工业出版社 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
本书共11章,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差。本书采用靠前近期新标准ASME Y14.5―2018作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。读者可以学习掌握传统坐标公差的缺点,12个几何公差的应用(尤其是位置度和轮廓度),独立组合位置度和复合位置度的区别,优选/很小实体要求(MMC/LMC)对产品图纸和成本的影响,实体要求应用在基准上对几何公差的影响,如何实现位置度和轮廓度的测量(包括CMM和功能检具),如何正确理解基准及怎样利用基准建立坐标系等。
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《GD&T基础及应用》着重介绍基于ANSIY14.5标准的几何公差知识,详细地阐述了几何公差基础知识及其应用,以引导读者入门,并例举了几何公差的实际应用。 《GD&T基础及应用》面向实际应用,对机械工程(如汽车类)设计人员、检测人员和加工制造人员都有极高的参考价值,对供应商质量管理和汽车零部件采购项目的从业人员也是不可或缺的工具书。
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这是一本从原理和实践两个层面解读GD32 MCU原理及标准库开发的专业技术书。本书内容均来自兆易创新内部及周边一线使用的企业,主要面向初中及人员,解决其在实际工作中入门、使用的问题。 全书共分为7章,首先分析了MCU的基本情况,然后聚焦于GD32,分别介绍了其产品形态、选型技巧,然后从原理和实践两个维度对入门知识、内核、存储器、电源管理、时钟系统、基础外设、模拟外设、通信外设进行深入解读。
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本书由资深GD&T专家夏忠定先生撰写,基于ASME Y14.5―2018,同时参照ISO 1101和GB/T 1182等几何公差标准,侧重于应用以及检测和检具的设计,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义,详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差等内容。本书内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识,提高设计开发效率,降低企业开发、生产成本。本书不仅适合制造企业,尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考,而且适合大学及专科院校机械类专业的学生学习。
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