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《现行光学元件检测与国际标准》重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共0章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求 计量概念与误差及精度的必要知识 光学元件检测基础 光学元件的参数检测和性能检测的现行技术，侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述 介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准（ISO00）的新内容和相关的辅助资料。《现行光学元件检测与国际标准》附录汇总了光学检测中4个常用的资料及相关的参考书籍。《现行光学元件检测与国际标准》可供从事光学、光学工程（尤其光学制造技术与检验）的科技人员与工艺技术人员参考，也可供大专院校有关专业的师生阅读。
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剪切干涉术及其进展 徐德衍 著 9787030525291 科学出版社 【速开发票，优质售后，支持7天无理由退换】
本书是一本光干涉领域论述剪切干涉术的专著。在全面介绍剪切干涉术的基本概况、理论与技术的基础上，系统描述了几种常用剪切干涉仪的工作原理、使用方法、解析运算及其各种基本应用，详细介绍了近30年来发展的不同相移剪切干涉术的实施技术与途径，几种剪切干涉波前重建理论、方法与实例，以及在现代高端光学领域中的应用实例及进展。书末附有制作和应用剪切干涉仪的若干参考资料。
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