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这是一本兆易创新高工、芯片综合服务商映时科技及一线从业者共同撰写的GD32 MCU重磅指南，得到了兆易创新产品市监及产业界、技术圈、高校10余名。书中从原理和实践两个角度解读GD32 MCU，通过该书读者可以深度理解GD32 MCU工作原理，并快速上手开发。
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本书由资深GD&T专家夏忠定先生撰写，基于ASME Y14.5―2018，同时参照ISO 1101和GB/T 1182等几何公差标准，侧重于应用以及检测和检具的设计，系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义，详细阐述了GD&T的公差原则，24个公差修饰符号的使用，12个基本公差符号的定义、功能和检测，复合公差等内容。本书内容全面、文字简明、图表数据充实，采用了大量、详细的应用图例，读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识，提高设计开发效率，降低企业开发、生产成本。本书不仅适合制造企业，尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考，而且适合大学及专科院校机械类专业的学生学习。
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本书共12章，以及3个附录，系统地介绍了GD＆T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD＆T的公差原则，24个公差修饰符号的使用，12个基本符号的定义、功能和检测，复合公差的理解和应用。本书采用国际新标准ASME Y14.5—2018作为依据，内容全面、文字简明、图表数据充实，采用了大量、详细的应用图例，力求增强可读性、易懂性和实用性。 本书不仅对第1版的第1～11章的内容进行了修改和增减，还增加了第12章“GD＆T和GPS主要差异分析”、附录A“测量取点方案”和附录B“拟合操作算法”等新内容。同时，对全书每章的习题内容也进行了补充，除了选择题，还增加了判断题和应用题，并附加了每章的习题答案（附录C）。 本书不仅适合制造企业，尤其是汽车、航空行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师学习，而且适合大学本专科院校
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本书基于ASME Y14 5、 1101和GB/T 1182等几何公差标准，内容侧重于应用，以及检测和检具的设计。检具设计的关键工作在于计算，读者在设计检具或夹具时可以参考这些检具设计知识要点。本书内容旨在介绍这门学科的应用知识，提高设计开发效率，降低企业开发、生产成本。
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GD32微控制器原理与应用 主编:张沛昌 郭文波 副主编:唐浒 董磊9787302635932 清华大学出版社全新正版
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