数字系统测试和可测试性设计【达额立减】 线上线下同步销售，请咨询客服查询库存后下单，避免纠纷。
《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把《数字系统测试和可测试性设计》与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9781489979278 Author 作者 Zainalabedin Navabi Format 版本 平装-胶订 Pages Number 页数 435页 Publisher 出版社 Springer Berlin Heidelberg Publication Date 出版日期 2016-08-23 Shipping Weight 商品重量 868g Language 语种 英语 Book Contents 内容简介 This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms.Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describ
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数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁纳瓦比(Zainalabedin Navabi) [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦 【速开发票，优质售后，支持7天无理由退换】
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数字系统测试和可测试性设计 [美]塞纳拉伯丁·纳瓦比（Zainalabedin,Navabi） 著；贺海文、唐威昀 译【 【速开发票，优质售后，支持7天无理由退换】
《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把《数字系统测试和可测试性设计》与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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数字系统测试和可测试性设计 [美]塞纳拉伯丁·纳瓦比（Zainalabedin,Navabi） 著；贺海文、唐威昀 译 【速开发票，此书为单本而非一套，支持7天无理由退换】
《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把《数字系统测试和可测试性设计》与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9781441975478 Author 作者 Zainalabedin Navabi Format 版本 精装 Pages Number 页数 435页 Publisher 出版社 Springer US Publication Date 出版日期 2010-12-20 Shipping Weight 商品重量 2230g Language 语种 英语 Book Contents 内容简介 This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms.Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describing many of the on-ch
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数字系统测试和可测试性设计[美]塞纳拉伯丁·纳瓦比（Zainalabedin,Navabi） 著；贺海文、唐威昀 译机械 正版旧书，保证质量，此书为单本而非一套，电子发票！
《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把《数字系统测试和可测试性设计》与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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数字系统测试和可测试性设计 塞纳拉伯丁·纳瓦比（Zainalabedin，Navabi）著，贺海文，唐威昀译 机械工业出
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数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi) 机械工业出版社【正版可 全国三仓发货，物流便捷，下单秒杀，欢迎选购！
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