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嵌入式系统中的辐效应 (法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco) 等 著;黄云 等 译 机械工业出版社 【出版 全新正版书籍 正规电子发票 多仓就近发货
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Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9787111582861 Author 作者 (法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco) 等 著;黄云 等 译 Format 版本 平装-胶订 Pages Number 页数 234页 Publisher 出版社 机械工业出版社 Publication Date 出版日期 2018-01-01 Product Dimensions 商品尺寸 B5 Language 语种 其它(含多语) Book Contents 内容简介 本书由法国TIMA实验室的RaoulVelazco、法国波尔多*大学的PascalFouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的RicardoReis共同编著,从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应,主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构
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