理查德 利奇著的《工程纳米测量基础(第2版)》从先进制造技术质量控制角度,介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。本书可作为测量技术、机械设计和机械加工等相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员的参考用书,也可用作高校相关专业的基础教材。
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工程纳米测量基础(第2版) (英)理查德·利奇|译者:袁道成//朱学亮//刘乾//何华彬 浙江大学 【新华集团自营】 全新正版图书正规电子发票多仓就近发货85%城市次日达
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