3-6周达 高被引Extended Defects in Semiconductors: Electronic Prop 【全球购】进口原版图书，一般3-6周左右到国内后发出

¥845.00

书之源外文图书

Holt, D. B. /2014-07-08 /Cambridge University Press

预订 How Brands Become Icons:The Principles of Cultural Brandi 预订，预计下单后3-4周左右发货！

¥395.00

上海外文书店旗舰店

Holt, D. B. /2004-11-01 /Harvard Business Review Press

3-6周达 How Brands Become Icons: The Principles of Cultural Br 【全球购】进口原版图书，预计3-6周到达国内后发出

¥316.00

书之源外文图书

Holt, D. B. /2004-11-01 /Harvard Business Review Press

按需印刷Extended Defects in Semiconductors:Electronic Properties 预订，预计下单后2-3周左右发货！

¥785.00

上海外文书店旗舰店

Holt, D. B. (Imperial College of Science /2014-08-07 /Cambridge University Press

3-6周达 高被引Extended Defects in Semiconductors [ISBN:9780521819 【全球购】进口原版图书，一般3-6周左右到国内后发出

¥1628

书之源外文图书

Holt, D. B. /2007-12-04 /Cambridge University Press

海外直订Extended Defects in Semiconductors

¥1624

中华商务进口图书旗舰店

Holt, D. B. /2007-12-03 /Cambridge University Press

海外直订Extended Defects in Semiconductors: Electronic Propertie

¥919.00

中华商务进口图书旗舰店

Holt, D. B. /2014-08-06 /Cambridge University Press

【预订】Extended Defects in Semiconductors: Electronic Propertie 美国库房发货，通常付款后3-5周到货！

¥600.00

中国进口图书旗舰店

Holt, D. B. /1988-08-08 /Cambridge University Press

【预订】Microanalysis of Solids Y9780306444333 美国库房发货，通常付款后3-5周到货！

¥2434

中国进口图书旗舰店

B.G. Yacobi,L. L.Kazmerski,D.B. Holt /1988-08-08 /Plenum PublishingCo.,N.Y.; Revised

【预订】Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids 美国库房发货，通常付款后3-5周到货！

¥2434

中国进口图书旗舰店

B.G. Yacobi,D.B. Holt /1988-08-08 /Plenum PublishingCo.,N.Y.

现货 英文原版 哈佛商学 品牌是如何成为时代标志的 How Brands Become Icons -

¥261.00

外图台湾书店

D. B. Holt /2004-11-01 /Harvard Business School Press

How Brands Become Icons 英文原版 品牌如何成为偶像：文化式品牌塑造的原理 哈佛商业评论 Holt

¥284.00

华研外语旗舰店

D. B. Holt /2019-01-01 /Harvard

How Brands Become Icons(ISBN=9781578517749)

¥196.30

5条评论

D. B. Holt ，（D·B·霍尔特） 著 /2004-09-01 /Perseus

预订Extended Defects in Semiconductors:Electronic Properties, 预订，预计下单后2-3周左右发货！

¥2147

上海外文书店旗舰店

Holt, D. B. (Imperial College of Science /2007-04-12 /Cambridge University Press