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空间单粒子效应：影响航天电子系统的危险因素[美]Edward Petersen（E. 彼得森） 著；韩郑生 译电子工业出 正版旧书，保证质量，此书为单本而非一套，电子发票！
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
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空间单粒子效应：影响航天电子系统的危险因素 Edward Petersen 电子工业出版社 9787121281976
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Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9780470767498 Author 作者 Edward Petersen Format 版本 精装 Pages Number 页数 520页 Publication Date 出版日期 2011-09-30 Language 语种 英语 Book Contents 内容简介 This book introduces the basic concepts necessary to understand Single Event phenomena which could cause random performance errors and catastrophic failures to electronics devices. As miniaturization of electronics components advances, electronics components are more susceptible in the radiation environment. The book includes a discussion of the radiation environments in space and in the atmosphere, radiation rate prediction depending on the orbit to allow electronics engineers to design and select radiation tolerant components an
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