数字集成电路测试——理论、方法与实践 聚焦芯片设计中的测试技术，一线知名教授与EDA专家联合执笔，刘明院士、郑光廷教授、汪玉教授、杨军教授联袂推荐

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李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 /2024-06-01 /清华大学出版社

数字集成电路测试——理论、方法与实践李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李清华大学出版社9787302662037

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