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纳米级系统芯片单粒子效应研究 贺朝会等 科学出版社 【新华书店正版图书书籍】 正版全新书籍 正规发票 多仓就近发货 85%城市次日送达 关注店铺可享店铺优惠!
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纳米级系统芯片单粒子效应研究 贺朝会 科学出版社 【速开发票,此书为单本而非一套,支持7天无理由退换】
《纳米级系统芯片单粒子效应研究》主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应,内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制,SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究,SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究;提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律;计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率;揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征;定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间;提出几种SoC单粒子效应加固方法,并进行实验验证。
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纳米级系统芯片单粒子效应研究 子系统和不同模块的故障频率 定量分析SoC系统SoC单粒子效应加固方法书籍 贺朝会著 科学
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