新日本语能力测试N1·模拟试题 刘静 黄莺 (日)多田光子 上海交通大学出版社【正版】 全国三仓发货,物流便捷,下单秒杀,欢迎选购!
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全新功率半导体器件--原理特性和可靠性/电气工程先进技术译丛 (德)卢茨|译者:卞抗 杨莺 刘静 著 978711141
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下一代移动接入技术—TDD模式的实现 (德)哈斯,(英)麦克劳克林 著,马霓,刘静,甘小莺 译 人民邮电出版社,【正版保 全国三仓发货,物流便捷,下单秒杀,欢迎选购!
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