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电子设备冷却技术 (美)戴夫·S.斯坦伯格 著,李明锁,丁其伯 译 中航出版传媒有限责任公司【正版现货】 正版图书,本店套装图书默认为单本,您下单前可咨询在线客服,谢谢!
电子系统中有许多故障是由于电气引线中热胀系数的差异很大,且缺乏恰当的约束或没有合理地消除应变引起的。还有许多故障是由于在使用振动环境下,当电路板的谐振频率受到激励时,在电路板中形成的动态位移过大引起的。戴夫·S.斯坦伯格所著的《电子设备冷却技术(第2版)》已增补了这些内容,以促进人们更好地了解其他故障机理对复杂电子系统可靠性的影响。并介绍了在热循环和振动循环环境中的累积损伤概念,以说明如何利用米勒累积疲劳损伤定理,来近似计算工作在不同综合环境中的多种系统的损伤总量和疲劳寿命。
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