2册 图解入门 半导体器件缺陷与失效分析技术精讲+SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 芯片集成电路半导体制造书
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创芯源 高等教育产学研合作经典案例 9787567241855
Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9787567241855 Format 版本 平装-胶订 Pages Number 页数 204页 Publisher 出版社 苏州大学出版社 Publication Date 出版日期 2023-09-01 Product Dimensions 商品尺寸 16开 Language 语种 其它(含多语)
¥45.00定价:¥90.00 (5折)